꿈의 주파수 테라헤르츠파로 OLED 파괴 않고 오류 검사

1초에 1조번 진동하는 테라헤르츠(㎔)파는 직진성과 침투성을 가지면서도 에너지가 낮아 물질을 파괴하지 않고 인체에도 무해한 ‘꿈의 주파수’이다. 국내 연구진이 이전까지는 시도되지 않았던 비파괴 검사 분야에 적용할 수 있는 기술을 개발해 주목받고 있다.

한국과학기술연구원(KIST) 센서시스템 연구센터, 고려대 전기전자공학부, 고려대-KIST 융합대학원, 금오공대 공동 연구팀은 테라헤르츠파 분광기술을 이용해 OLED 결함을 실시간, 비파괴로 분석할 수 있는 기술을 개발했다고 11일 밝혔다. 이번 연구 결과는 재료과학분야 국제 학술지 ‘응용 표면과학’(Applied Surface Science)에 실렸다.

LCD는 백라이트가 필요하지만 유기발광다이오드(OLED)는 자체 발광하는 성질을 갖고 있어 전력소모가 적고 디스플레이를 얇고 가볍게 만들 수 있다는 장점이 있다. 유연성이 있어 접거나 구길 수 있는데 제조원가가 비싸다. 이 때문에 제조 중간단계에서 발생하는 결함을 찾아 수리한다면 수율을 높이고 생산비용을 낮출 수도 있다.

지금도 OLED 불량검사를 하는 방법은 있기는 한데 OLED 디스플레이에 전극을 붙여 조사를 하기 때문에 시간이 걸리고 전극 부착과정에서 OLED 물질이 파괴될 수 있다.

이에 연구팀은 테라헤르츠파 주파수에 따라 달라지는 OLED 흡수율과 투과율을 측정하면 결함 여부를 쉽게 찾아낼 수 있다는 것을 밝혀냈다.

연구에 참여한 전영민 KIST 박사는 “의료, 산업, 국방 분야에서 다양하게 쓰이는 테라헤르츠파를 OLED 디스플레이 결함 검사라는 새로운 분야로 확장했다는데 의미가 크다”며 “OLED 결함을 실시간 비파괴로 검사해 결함을 빠르게 수리하고 복구가 불가능할 경우 폐기함으로써 낭비를 줄여 제작단가를 낮출 수 있다”고 설명했다.